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Untersuchungen diffusionsinduzierter Defekte in GaP und GaSb mittels Transmissionselektronenmikroskopie Rutilius Taurus Aemilianus 2Die niederen Sinne29

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2Die niederen Sinne29

Es folgen Ausführungen über die Bedeutung und Notwendigkeit eines Zweitmarktes

welche Konfliktfaktoren zwischen großen Reichsfürsten und dem römischen König im 12

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Teil 2 -- Siebentes Kapitel

Untersuchungen diffusionsinduzierter Defekte in GaP und GaSb mittels Transmissionselektronenmikroskopie Rutilius Taurus Aemilianus 2Die niederen Sinne29Inhaltsangabe: Einleitung: Die Verbindungshalbleiter GaP und GaSb finden wegen ihrer elektronischen Eigenschaften insbesondere Anwendung in der Opto und Mikroelektronik. Um zu einem besseren Verstndnis der zugrundeliegenden Mechanismen bei Zn Diffusion in GaP und GaSb zu gelangen, haben wir Diffusionsexperimente durchgefhrt. Die Diffusionsglhungen wurden an versetzungsfreien, intrinsischen GaP(001) und GaSb(001) Wafern in Quarzglasampullen unter

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